Proizvodi

• Korišten analizator za ometanje Agilent E4990A

  Ključ za E4990A je savršeno rješenje za karakterizaciju i evaluaciju elektronskih komponenti, uređaja za semiconduktor i materijale.

• Korišten analizator za ometanje Agilent 4395A

  HP Agilent 4395A mrežni/spektar/Impulzni analizator pruža sjajnu vektornu mrežu, spektar i opcionalna mjerenja za laboratorijske i proizvodne aplikacije.

• Korišteni analizator RF-a Agilent E4991B

  Ključ za E4991B je savršeno rješenje za karakterizaciju i evaluaciju elektronskih komponenti, uređaja za semiconduktor i materijale.

• Rabljeni mjerač visokog otpora Agilent 4339 A

  HP Agilent 4339 Mera visokog otpora je jednokanalno rešenje za precizno merenje visokog otpora i niskih struja.

• Rabljeni mjerač visokog otpora Agilent 4339 B

  HP Agilent 4339 B Merač visokog otpora je jednokanalno rešenje za precizno merenje visokog otpora i male struje.

• Rabljeni mjerač visokog otpora Agilent 4349 A

  HP 4349 4-kanalni mjerač visokog otpora dizajniran je za mjerenje kondenzatora. Značajke uključuju:

• Rabljeni mjerač visokog otpora Agilent 4349 B

  Mjerač visokog otpora Agilent 4349 B precizan je, pouzdan, brzi testni alat za izradu preciznih mjerenja visokog otpora.

• Koristio je Picoammetar Keithley 6482

  U Keithley 6482 dvostrukom kanalu Picoammetar/napon, nalazi se dva nezavisna i izvorna kanala u picoamtažu za široku lepezu prijemnih aplikacija koja zahtijevaju dvostruke kanale.

• Rabljeni Keithley 6487

  5-1 / 2 znamenka Keithley 6487 Picoammeter / Voltage Source poboljšava se mogućnost merenja nagrađenog Keithley-a 6485 Picoammeter i dodaje visoku rezoluciju 500 V izvor.

• Koristio je Picoammetar Keithley 6485

  Keithley 6485 Picoammetar kombinuje Keithleyinu stručnost u osjetljivim trenutnim instrumentaciji uz poboljšanu brzinu i snažan dizajn.

• Rabljeni Milliohmmeter Agilent 4338 B

  Agilent 4338 B Milliohmmetar je precizan, pouzdan, brzi testni alat za mjerenja malog otpora.

• Rabljeni poluvodički analizator parametara Keithley 4200-SCS

  Keithley 4200-SCS Semiconductor System karakterizacijski sistem vrši laboratorijsku karakterizaciju istosmjernog i pulsnog uređaja, crtanje u stvarnom vremenu i analizu s visokom preciznošću i...